Streszczenie Wykaz podstawowych skrótów i oznaczeń 1. Wstęp1.1. Ogólne zasady uwzględniania fluktuacji wartości parametrów elementów w procesie projektowania układów elektronicznych 1.2. Sposoby poprawy jakości projektu przy fluktuacji jego parametrów 1.3. Główne metody rozwiązywania problemu "centrowania" i optymalizacji uzysku 1.4. Podsukowanie2. Podstawowe problemy w projektowaniu monolitycznych układów scalonych związane z rozrzutem wartości ich parametrów2.1. Rodzaje układów scalonych z punktu widzenia specyfiki projektowania 2.2. Zjawiska negatywne występujące w układach scalonych 2.3. Podsumowanie3. Związek modelu układu elektronicznego z metodą optymalizacji - przegląd metod optymalizacji uwzględniających rozrzuty wartości parametrów3.1. Metody deterministyczne 3.2. Optymalizacja układu elektronicznego z modelem statystycznym układu 3.3. Podsumowanie4. Wybrane problemy optymalizacji projektu układu elektronicznego przy pomocy sztucznych sieci neuronowych4.1. Przyczyny stosowania SSN w rozwiązaniu zagadnienia optymalizacji 4.2. Sposoby optymalizacji z zastosowaniem SSN 4.3. Przykład zastosowania SSN w zadaniu optymalizacji 4.4. Podsumowanie5. Systemy wnioskowania rozmytego w projektowaniu układów elektronicznych5.1. Przyczyny zainteresowania zastosowaniami systemów rozmytych do optymalizacji układów elektronicznych 5.2. Podstawowe wiadomości z logiki rozmytej i zbiorów rozmytych 5.3. Przykład projektowania układu elektronicznego wspomaganego systemem wnioskowania rozmytego 5.4. Podsumowanie6. Wybrane metody poprawy własności projektu układu elektronicznego wykorzystujące funkcje wrażliwości i sztuczną sieć neuronową6.1. Zalety podejścia projektowania dedykowanego (dla wybranej klasy układów elektronicznych) wykorzystujące metody sztucznej inteligencji 6.2. Optymalizacja w układach filtrów IRS wyższych rzędów 6.3. Przykłady zastosowań metody 6.4. Podsumowanie7. Uwagi końcowe Literatura Summary