Kalendarze 2025 za 1 zł 

GRAFICZNE ZINTEGROWANE ŚRODOWISKA PROGRAMOWE DO PROJEKTOWANIA KOMPUTEROWYCH SYSTEMÓW POMIAROWO-KONTROLNYCH

GRAFICZNE ZINTEGROWANE ŚRODOWISKA PROGRAMOWE DO PROJEKTOWANIA KOMPUTEROWYCH SYSTEMÓW POMIAROWO-KONTROLNYCH - Mikom
search

    GRAFICZNE ZINTEGROWANE ŚRODOWISKA PROGRAMOWE DO PROJEKTOWANIA KOMPUTEROWYCH SYSTEMÓW POMIAROWO-KONTROLNYCH

    Wiesław Winiecki

    Mikom

    9788372791788

    16 x 23

    280

    miękka

    W książce zawarto analizę zintegrowanych środowisk pomiarowych - LabWindows/CVI, LabVIEW (National Instruments), VEE (Hewlett Packard/Agilent), TestPoint (Keithley Instruments), DasyLab (DASYTEC) oraz zintegrowanych środowisk automatyki przemysłowej - BridgeVIEW, Lookout (National Instruments), GeniDAQ (Advantech). Przedstawiono metodykę

    czytaj więcej
    📚 OUTLET KSIĄŻKOWY – Małe skazy, wielkie okazje! 📚
    Książka może mieć drobne ślady magazynowania, takie jak:
    📌 lekkie zagięcia okładki,
    📌 ryski, przetarcia lub ślady po naklejkach cenowych,
    📌 delikatnie uszkodzone rogi lub okładkę.

    💡 Co najważniejsze?
    ✅ Treść jest kompletna i nieuszkodzona – czytasz bez przeszkód!
    ✅ Pełnowartościowa książka – tylko okładka nosi ślady magazynowania.
    ✅ Świetna okazja na tańszą lekturę!

    Czytasz to samo, ale płacisz mniej! 🏷️📖
    -65%
      GRAFICZNE ZINTEGROWANE ŚRODOWISKA PROGRAMOWE DO PROJEKTOWANIA KOMPUTEROWYCH SYSTEMÓW POMIAROWO-KONTROLNYCH - Mikom
      12 72 
      36,35 zł
      Taniej o: 23.63 zł (-65%)
      Kup teraz

      Mamy na stanie 2 szt. na stanie, wysyłamy od razu.

      Wysyłamy w 24h + czas dostawy

      14 dni na zwrot produktu

      Koszty dostaw już od 8.99 zł

      Darmowa dostawa już od 59.99 zł

      Blik Przelewy24 GPay Paypo Visa Mastercard

      Recenzje

      Napisz swoją opinię

      GRAFICZNE ZINTEGROWANE ŚRODOWISKA PROGRAMOWE DO PROJEKTOWANIA KOMPUTEROWYCH SYSTEMÓW POMIAROWO-KONTROLNYCH

      W książce zawarto analizę zintegrowanych środowisk pomiarowych - LabWindows/CVI, LabVIEW (National Instruments), VEE (Hewlett Packard/Agilent), TestPoint (Keithley Instruments), DasyLab (DASYTEC) oraz zintegrowanych środowisk automatyki przemysłowej - BridgeVIEW, Lookout (National Instruments), GeniDAQ (Advantech). Przedstawiono metodykę projektowania ...

      Napisz swoją opinię